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SMART III NIR水分测定仪近红外水分分析仪 ，无论是在线还是连续，都满足了行业对存储和过程筒仓中瞬时、无损水分测量的需求。RF（射频）探头通常安装在垂直筒仓底部附近，靠近产品排放点。如果需要测量水分梯度，可以在筒仓的顶部，中间和底部安装多个探头。探头可以制造成从6英寸到48英寸的各种长度，以满足设施要求。探头直径为 3/4 英寸，可轻松安装在焊接在筒仓侧面的 3/4 英寸 NPT 法兰中。探头只需拧入法兰，然后通过两根短电缆连接到安装在探头15英尺范围内的单独振荡器盒。

探头使用电容原理工作，其中探头充当电容器的一个板，而探头的套管充当第二个板。然后，射频场通过低交流伏特信号从探头穿过1英寸宽的绝缘体传输到探头的套管。典型的场穿透力约为3英寸。绝缘体可以是特氟龙或陶瓷，具体取决于筒仓内产品的温度。特氟龙绝缘子在高达200华氏度时表现良好，而陶瓷绝缘子则适用于高达482华氏度的产品。

SMART III NIR水分测定仪近红外水分分析仪 探头读出控制台提供各种输出信号，包括4-20ma，以太网IP，低压信号，Profibus，Profinet，Devicenet等。当连接到工厂PLC或DCS时，可以进行自动水分控制，从而以最少的操作员界面提供即时水分校正。测绘功能和无限的校准表（每个最多 7 个点）内置于读出控制台中。软件是基于Windows的，因此可以轻松下载任何未来需要的更新。输出平滑和产品损失报警也包括在内。PLC 使用 SMART III 控制台信号输出提供高湿度和低湿度报警。